恒溫老化測(cè)試房 科正KZ-TH-12P恒溫房

恒溫老化測(cè)試房適用于、航空航天產(chǎn)品、醫(yī)療電子、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏睾銣丨h(huán)境下檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo).及質(zhì)量管理之用。

恒溫房特點(diǎn)：

恒溫房系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)優(yōu)秀合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方；該試驗(yàn)箱主要功能元器件均采用配置（含金量高）、技術(shù)原理優(yōu)秀可靠、噪音與節(jié)能得到更好的控制——其性能可替代國(guó)外同類產(chǎn)品；零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有全進(jìn)口的件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶長(zhǎng)時(shí)間、高頻率的使用要求；設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康；線路清楚，一目了然。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)參考：

GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GJB 150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法

GJB 150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

恒溫房實(shí)拍圖：

恒溫房相關(guān)參數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)要求請(qǐng)！

恒溫房規(guī)格型號(hào)如下：（恒溫房為定制款，內(nèi)部尺寸以客戶要求為準(zhǔn)）

恒溫房具體參數(shù)請(qǐng)！

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