詳情介紹：
能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)
產品特點
1. 采用的美國SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探測器，分辨率更高，大大提高了輕元素的檢出限，標準檢出限較SI-PIN探測器提高100倍；測量范圍更寬，基本涵蓋了各種常規(guī)材料元素分析要求；
2. 配置美國數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng)，數(shù)據(jù)采集速度更快，測量更穩(wěn)定，重復性和長期穩(wěn)定性更好；
3. 配置新開發(fā)的專用測量軟件，集成多種圖形計算方法，測量數(shù)據(jù)更精準，更穩(wěn)定；
4. 軟件監(jiān)控儀器主要核心部件運行狀態(tài)，使用更快捷；
5. 配置專門開發(fā)的真空系統(tǒng)，真空性能更好，測試效果更佳；
技術參數(shù):
1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
2..元素含量分析范圍為1ppm到99.99％
3. 低檢出限：1ppm
4. 測量時間：60-200秒(可調)
5. 儀器工作電源：AC220±5V
6. 能量分辨率為129±5eV
7. X 射線光管大輸出電流：1mA
8. 極限壓力：6.7×10-2 Pa
9.樣品腔尺寸：610*320*100(mm)（不抽真空）/Φ100*h75(mm) (真空樣品腔)
10.多次測量重復性(以標準樣品為準)：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量)
11.長期工作穩(wěn)定性(以標準樣品為準)±:0.06％ (高含量）/±0.0025％(微量)
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