本資料給出的參數(shù)符合GB/T 3505-2000《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 表面結(jié)構(gòu)的述語、定義及參數(shù)》、符合GB/T 6062-2002《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范 （GPS）表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 接觸（觸針）式儀器的標(biāo)稱特性》。

圖一：放大n倍后的工件截面/表面粗糙度及輪廓：

圖二：各種加工方法能得到的表面光度：

圖三：常見的表面粗糙度儀的工件測量：

表面粗糙度關(guān)鍵技術(shù)術(shù)語：

(1)表面粗糙度： 取樣長度L

取樣長度是用于判斷和測量表面粗糙度時(shí)所規(guī)定的一段基準(zhǔn)線長度，它在輪廓總的走向上取樣。

(2)表面粗糙度： 評定長度Ln

由于加工表面有著不同程度的不均勻性，為了充分合理地反映某一表面的粗糙度特性，規(guī)定在評定時(shí)所必須的一段表面長度，它包括一個(gè)或數(shù)個(gè)取樣長度，稱為評定長度Ln。

(3)表面粗糙度： 輪廓中線（也有叫曲線平均線）M

輪廓中線M是評定表面粗糙度數(shù)值的基準(zhǔn)線。

評定參數(shù)及數(shù)值:

國家規(guī)定表面粗糙度的參數(shù)由高度參數(shù)、間距參數(shù)和綜合參數(shù)組成。

表面粗糙度高度參數(shù)共有三個(gè):

(1)輪廓算術(shù)平均偏差Ra ：

在取樣長度L內(nèi)，輪廓偏距優(yōu)良值的算術(shù)平均值。

(2)微觀不平度十點(diǎn)高度Rz

在取樣長度L內(nèi)*大的輪廓峰高的平均值與五個(gè)*大的輪廓谷深的平均值之和。

(3)輪廓*大高度Ry

在取樣長度內(nèi)，輪廓峰頂線和輪廓谷底線之間的距離。

表面粗糙度間距參數(shù)共有兩個(gè)：

(4)輪廓單峰平均間距S

兩相鄰輪廓單峰的*高點(diǎn)在中線上的投影長度Si，稱為輪廓單峰間距，在取樣長度L內(nèi)，輪廓單峰間距的平均值，就是輪廓單峰平均間距。

(5)輪廓微觀不平度的平均間距Sm

含有一個(gè)輪廓峰和相鄰輪廓谷的一段中線長度Smi，稱輪廓微觀不平間距。

表面粗糙度綜合參數(shù)：

(6)輪廓支承長度率tp

輪廓支承長度率就是輪廓支承長度np與取樣長度L之比。

另附：

國內(nèi)表面光潔度與表面粗糙度Ｒａ、Ｒｚ數(shù)值換算表(單位：μｍ)

另附：表面粗糙度國際標(biāo)準(zhǔn)加工方法

另附：

粗糙度儀新舊標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)變化對照表

現(xiàn)將粗糙度依據(jù)新標(biāo)準(zhǔn)更改參數(shù)的情況列表如下，如有問題，由時(shí)代公司負(fù)責(zé)解釋。本表還適用于公司TR1系列粗糙度儀。修改后可測量參數(shù)的總數(shù)沒有變化，仍為13個(gè)參數(shù)，只是顯示在不同的標(biāo)準(zhǔn)中,也就是說：時(shí)代粗糙度儀產(chǎn)品參數(shù)：涵蓋新舊標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)！（詳見表）

相關(guān)儀器：頻閃儀，超聲波測厚儀, 激光測距儀，色差儀，鐵素體檢測儀，超聲波探傷儀，推拉力計(jì)，附著力測試儀，測振儀,氣體分析儀

計(jì)量 相關(guān)儀器：硬度計(jì)，粗糙度儀，電子天平，超聲波測厚儀，電火花檢測儀，溫度計(jì)，推拉力計(jì)，磁粉探傷儀，紅外線測溫儀，超聲波探傷儀，瓶蓋扭力計(jì)，紫外線燈，可見光分光光度計(jì)

涂裝 相關(guān)儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計(jì)/粘度計(jì)，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時(shí)間記錄儀，標(biāo)準(zhǔn)光源箱

建工 相關(guān)儀器：鋼筋探測儀，鋼筋掃描儀，混凝土保護(hù)層測厚儀，鋼筋銹蝕儀，工程雷達(dá)，非金屬超聲檢測儀，非金屬板/樓板測厚儀，回彈儀，裂縫寬度測試儀，混泥土強(qiáng)度測定儀，測樁儀，其他建工測試儀