為研究植物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，對(duì)植物冠層進(jìn)行光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線的攔截成了必要手段。在技術(shù)還不成熟的過去，研究人員很難對(duì)其進(jìn)行測(cè)量分析，往往需要投入大量時(shí)間精力。如今隨著科技的發(fā)展，冠層分析儀被研究人員很好的利用了起來。從實(shí)際推廣應(yīng)用來看，儀器還是能夠發(fā)揮很大作用的。

    首先來說說直接測(cè)量和間接測(cè)量都是如何進(jìn)行的。直接測(cè)量是通過想測(cè)定所有葉片的葉面積，再計(jì)算LAI，因要剪下全部待測(cè)葉片，多數(shù)屬于毀壞性測(cè)量，或至少會(huì)干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量，直接測(cè)量費(fèi)時(shí)、費(fèi)力。間接測(cè)量就是利用冠層結(jié)構(gòu)與冠層內(nèi)輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關(guān)系，通過冠層分析儀來測(cè)定植物冠層的相關(guān)數(shù)據(jù)，通過植物冠層的轉(zhuǎn)移模型來推斷LAI。
    冠層分析儀是通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測(cè)算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測(cè)量法相比，采用冠層分析儀測(cè)量冠層數(shù)據(jù)，可以避免直接測(cè)量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點(diǎn)，而且采用儀器進(jìn)行測(cè)量操作，具有方便快捷，不受時(shí)間限制，獲取數(shù)據(jù)量大等優(yōu)點(diǎn)，非常適合用于現(xiàn)代農(nóng)業(yè)科研研究當(dāng)中，目前冠層分析儀被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)工作當(dāng)中，并在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)揮了重要的作用。