測(cè)頭是測(cè)量機(jī)觸測(cè)被測(cè)零件的發(fā)訊開關(guān)，它是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件，需要的測(cè)量精度的高低決定了測(cè)量機(jī)測(cè)頭精度的高低，另外，不同的零件要求選擇不同功能的測(cè)頭進(jìn)行測(cè)量。
   測(cè)頭可分為接觸式測(cè)頭和非接觸式測(cè)頭（激光等類型）。
   目前主要用接觸式測(cè)頭，接觸式測(cè)頭又可分為開關(guān)式（觸發(fā)式或動(dòng)態(tài)發(fā)訊式）與掃描式（比例式或靜態(tài)發(fā)訊式）兩大類
   開關(guān)測(cè)頭的實(shí)質(zhì)是零位發(fā)訊開關(guān)，以TP6（RENISHAW）為例，它相當(dāng)于三對(duì)觸點(diǎn)串聯(lián)在電路中，當(dāng)測(cè)頭產(chǎn)生任一方向的位移時(shí)，均使任一觸點(diǎn)離開，電路斷開即可發(fā)訊計(jì)數(shù)。開關(guān)式結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，壽命長（106~107）、具有較好的測(cè)量重復(fù)性（0.35~0.28μm），而且成本低廉，測(cè)量迅速，因而得到較為廣泛的應(yīng)用。
   掃描式測(cè)頭實(shí)質(zhì)上相當(dāng)于X、Y、Z個(gè)方向皆為差動(dòng)電感測(cè)微儀，X、Y、Z三個(gè)方向的運(yùn)動(dòng)是靠三個(gè)方向的平行片簧支撐，是無間隙轉(zhuǎn)動(dòng)，測(cè)頭的偏移量由線性電感器測(cè)出。掃描式測(cè)頭主要用來對(duì)復(fù)雜的曲線曲面實(shí)現(xiàn)測(cè)量。
   非接觸測(cè)頭主要分為激光掃描測(cè)頭和視頻測(cè)頭兩種。
   激光掃描測(cè)頭主要用于實(shí)現(xiàn)較軟材料或一些特征表面進(jìn)行非接觸測(cè)量。測(cè)頭在距離檢測(cè)工件一定距離（比如50mm），在其聚焦點(diǎn)!5mm范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，采點(diǎn)速率在200點(diǎn)/秒以上。通過對(duì)大量采集數(shù)據(jù)的平均處理功能而獲得較高的精度。
   視頻測(cè)頭進(jìn)一步提高了測(cè)量機(jī)的應(yīng)用，使得許多過去采用非接觸測(cè)量無法完成的任務(wù)得以完成。一些諸如印刷線路板、觸發(fā)器、墊片或直徑小于0.1mm的孔可采用視頻測(cè)頭進(jìn)行測(cè)量。操作者可將檢測(cè)工件表面放大50倍以上，采用標(biāo)準(zhǔn)的或可變換的鏡頭實(shí)現(xiàn)對(duì)細(xì)小工件的測(cè)量。
   以下就如何進(jìn)行觸發(fā)和掃描測(cè)頭提出建議：
  什么時(shí)侯用觸發(fā)式測(cè)頭？
 1. 零件所被關(guān)注的是尺寸（如小的螺紋底孔）、間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差（如定位銷孔）;
 2. 或你確信你所用的加工設(shè)備有能加工出形狀足夠好的零件，而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是合適的，特別是由于對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量;
 3. 觸發(fā)式測(cè)頭比掃描測(cè)頭快，觸發(fā)測(cè)頭體積較小當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件;
 4. 一般來講觸發(fā)式測(cè)頭使用及維修成本較低;    在機(jī)械工業(yè)中有大量的幾何量測(cè)量,所關(guān)注的僅是零件的尺寸及位置，所以目前市場(chǎng)上的大部分測(cè)量機(jī)，特別是中等精度測(cè)量機(jī)，仍然使用接觸式觸發(fā)測(cè)頭。
 什么時(shí)侯用掃描測(cè)頭？
   應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測(cè)量：掃描方式測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來確定零件的尺寸及位置，更重要的是能用眾多的點(diǎn)來精確的描述形狀、輪廓，這特別適用于對(duì)形狀、輪廓有嚴(yán)格要求的零件，該零件形狀直接影響零件的性能(如葉片、橢圓活塞等); 也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件 。
    目前三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)所使用的測(cè)頭系統(tǒng)基本上是英國雷尼紹（RENISHAW)的，產(chǎn)品性能及品種多樣化排在世界前列，可以優(yōu)選選購此品牌之測(cè)頭系統(tǒng)。
  更多測(cè)頭的詳細(xì)介紹請(qǐng)參照三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)基礎(chǔ)知識(shí)之測(cè)頭系統(tǒng)。