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| 三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)專業(yè)術(shù)語中英文對(duì)照（四） | |
| 零件編程 | Part Programming |
| 壓電測(cè)頭 | Piezo Sensor |
| 俯仰角擺 | Pitch |
| 預(yù)定路徑掃描 | Pre-Defined Path Scanning |
| （測(cè)頭）預(yù)行程 | Pretravel |
| 測(cè)頭 | Probe |
| 測(cè)頭校驗(yàn) | Probe Calibration |
| 測(cè)頭座（測(cè)頭）座 | Probe Head |
| 測(cè)頭的三角形效應(yīng) | Probe Lobbing |
| 探測(cè)誤差 | Probing Error |
| 探測(cè)系統(tǒng) | Probing System |
| 探測(cè)系統(tǒng)的標(biāo)定 | Probing System Qualification |
| 探測(cè) | Probing(to probe) |
| 程序點(diǎn) | Program Point |
| 可編程夾具 | Programmable Fixture |
| 齒輪齒條 | Rack-And-Pinion |
| 徑向四軸誤差 | Radial Four Axis Error |
| 探測(cè)軸 | Ram |
| 范圍 | Range |
| （光柵）讀數(shù)頭 | Read Head |
| 標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù) | Reference Data Set |
| 標(biāo)準(zhǔn)付 | Reference Pair |
| 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)值 | Reference Parameter Value |
| 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)化 | Reference Parameterization |
| 標(biāo)準(zhǔn)殘差 | Reference Residual |
| 標(biāo)準(zhǔn)軟件 | Reference Software |
| 標(biāo)準(zhǔn)球 | Reference Sphere |
| 反射式光柵 | Reflection Scale |
| 可靠性 | Reliability |
| 重復(fù)性 | Repeatability |
| 殘差 | Residual |
| 諧振 | Resonance |
| （坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）的復(fù)檢檢測(cè) | Reverification Test(Of A CMM) |
| 逆向工程 | Reverse Engineering |
| 自轉(zhuǎn) | Roll |
| 轉(zhuǎn)臺(tái) | Rotary Table |
| 轉(zhuǎn)臺(tái)設(shè)置 | Rotary Table Setup |
| 采點(diǎn)策略 | Sampling Strategy |
| 掃描順序 | Scan Sequence |
| 掃描 | Scanning |
| 掃描測(cè)頭 | Scanning Probe |
| 掃描探測(cè)誤差 | Scanning Probing Error |
| 掃描速度 | Scanning Speed |
| 敏感系數(shù) | Sensitivity Coefficient |
| 伺服電機(jī) | Servo Motor |
| 薄壁件特征測(cè)量 | Sheet Metal Feature Measurement |
| 尺寸 | Size |
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