三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)光學(xué)測(cè)頭的分類
近年來(lái)光學(xué)測(cè)頭發(fā)展非常迅速，是探測(cè)技術(shù)的一個(gè)重要發(fā)展方向?？梢詫⒛壳霸谌鴺?biāo)測(cè)量機(jī)上應(yīng)用的光學(xué)測(cè)頭分為如下五類：
1）一維測(cè)頭，如三角法測(cè)頭、激光聚焦測(cè)頭、光纖測(cè)頭等；
2）二維測(cè)頭，主要是各種視像測(cè)頭，如利用CCD攝像機(jī)測(cè)量平面輪廓的測(cè)頭；
3）二維加一維測(cè)頭，是在二維測(cè)頭基礎(chǔ)上，再增加對(duì)焦功能，使它能實(shí)現(xiàn)三維測(cè)量；
4）三維測(cè)頭，如用莫爾條紋技術(shù)形成等高線進(jìn)行條紋計(jì)數(shù)的測(cè)頭、體視式測(cè)頭；
5）接觸式測(cè)頭，是首先利用測(cè)端拾取工件表面位置信息，然后用光學(xué)原理進(jìn)行轉(zhuǎn)換。
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