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非接觸式三坐標(biāo)測量的缺點

2025年02月19日 10:14:51      來源:西安愛德華測量設(shè)備股份有限公司 >> 進入該公司展臺      閱讀量:4

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非接觸式三坐標(biāo)測量的主要缺點:
(1) 因為非接觸式測頭大多是接收被測件表面的反射光或散射光,容易受到被測件表面的反射特性的影響,如顏色、斜率等;
(2) 測頭容易受到環(huán)境光線及雜散光影響;
(3) 非接觸式測量只做被測件輪廓坐標(biāo)點的大量取樣,不能進行面上點的測量,對邊線及凹孔等的處理比較困難;
(4) 使用光學(xué)測頭測量時,測量鏡頭的焦距調(diào)整會影響測量精度;
(5) 被測件表面的粗糙度會影響測量結(jié)果;
(6) 光學(xué)陰影處及光學(xué)焦距變化處是測量死角。
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