紅外線氣體分析儀的原理
2025年04月01日 10:38:37
來源：北京方石亞盛科技發(fā)展有限公司 >> 進入該公司展臺
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紅外線氣體分析儀的原理，是利用紅外線進**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產生一個電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。 1．比爾定律 紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面．強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律) 式中：I--被介質吸收的輻射強度； I0--紅外線通過介質前的輻射強度； K--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)； C--待分析組分的氣體濃度； L--氣室長度(赦測氣體層的厚度) 對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定；紅外光源已定，即紅外線通過介質前的輻射強度I0一定；氣室長度L一定。從比爾定律可以看出：通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
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