筱曉光子 中紅外高精度激光波長計
美國Bristol Instruments公司由原來久負盛名的Burleigh公司技術人員創(chuàng)建，在高精度激光波長計和頻譜分析儀方面擁有30多年的生產(chǎn)和研發(fā)經(jīng)驗。其產(chǎn)品系列廣泛，可測量波長范圍覆蓋從紫外到遠紅外，被廣泛應用于科研、光通訊及工業(yè)域。激光的特性，包括它在時間、空間和頻譜中的分布特性，由各種激光參數(shù)表征。激光參數(shù)測量是激光技術中的一個重要方面，也是激光器的研究、生產(chǎn)和應用中的一項基礎工作。激光頻譜特性參數(shù)測量包括波長、譜線寬度和輪廓、頻率穩(wěn)定性和相干性等參數(shù)的測量。
| 參數(shù) | 單位 | 指標 | |
| 產(chǎn)品編號 | 771A | 771B | |
| 工作波長 | nm | VIS:375-1100NM NIR:520 - 1700 nm IR:1 - 5 μm MIR:1 - 12 μm | |
| 精度 | PPM | ± 0.2 ppm (± 1 ppm for λ > 5 μm) ± 0.0002 nm @ 1000 nm ± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1 ± 60 MHz @ 300,000 GHz | ± 0.75 ppm (± 1 ppm for λ > 5 μm) ± 0.0008 nm @ 1000 nm ± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1 ± 225 MHz @ 300,000 GHz |
| 光譜分辨率 | GHZ | Standard：4 GHz (8 GHz for IR) High:2 GHz (4 GHz for IR) Low:33 GHz (64 GHz for IR) | |
| 校準 | NA | Continuous - built-in stabilized single-frequency HeNe laser | Continuous - built-in standard HeNe laser |
| 數(shù)字顯示分辨率 | NA | 9 digits | 8digits |
| 支持單位 | dB | nm, μm, cm-1, GHz, THz | |
| 光反射率 | dB | > 40 dB (> 30 dB for MIR) | |
| 小輸入功率 | UW | VIS:0.009 - 2.0 μW NIR:0.003 - 0.08 μW IR:0.005 - 0.22 μW MIR:0.005 - 2.5 μW | |
| 測量時間 | S | < 2 s (1 s with smaller measurement ranges) | |
| 光輸入/輸出端口 | VIS / NIR: Pre-aligned FC/UPC connector (9 μm core diameter) - optional free beam-to-fiber coupler IR / MIR: Collimated beam, 2-3 mm diameter aperture, visible tracer beam to facilitate alignment | ||
| 儀器設備接口 | V | USB and Ethernet with Windows-based display program Library of commands for custom and LabVIEW programming | |
| 電腦配置要求 | NA | PC running Windows 7, 8, or 10, 1 GB available RAM, USB 2.0 (or later) port, monitor, pointing device | |
| 預熱時間 | Min | < 15 minutes | None |
| 溫度 | °C | +15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | |
| 壓力 | mm | 500 - 900 mm Hg | |
| 潮濕度 | % | ≤ 90% R.H. at +40°C (no condensation) | |
| 標準封裝尺寸 | mm | VIS / NIR: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) | IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm) |
| 重量 | Kg | 14 lbs (6.3 kg) | |
| 供電需求 | 90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max | ||
測試數(shù)據(jù)展示：
更新時間：2023/5/24 17:35:26
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