SGW X-4A 顯微熔點(diǎn)儀
SGW® X-4A 顯微熔點(diǎn)儀
功能和特點(diǎn)：
> 儀器采用顯微鏡觀察方法，具有二種測試模式，既可用（毛細(xì)管法）測定，又可用（載玻片-蓋玻片法）測量，測試樣品面廣；
> 工作臺選用(熱臺法)測定，保證了測量精度穩(wěn)定性、重復(fù)性；
> 特制的防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對測試結(jié)果的影響；
> 顯微熔點(diǎn)儀是作為教學(xué)儀器的選擇。
技術(shù)參數(shù)：
| 儀器型號 | SGW® X-4A |
| 測量范圍 | 室溫～320 ℃ |
| 測量方法 | 目視 |
| 測量模式 | 毛細(xì)管法、熱臺法 |
| 最小示值 | 0.1℃ |
| 重復(fù)性 | ≤200℃ ±1℃ |
| ＞200℃ ±2℃ | |
| 觀察方式 | 單目顯微鏡 |
| 放大鏡倍數(shù) | 40× |
| 電源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
| 儀器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
| 儀器凈重 | 4.5kg |
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