Instec溫控探針臺允許用戶同時進行溫控和樣品探針電測試。

本品有多種探針供選，并有真空/氣密腔、從外部移動探針等可選功能。亦可用非磁性材料制成霍爾測試探針臺。

Instec溫控探針臺是小型的探針測試設(shè)備，探針導通接口默認為BNC。本品可用于顯微鏡，光譜儀等觀察的上蓋窗口，支持皮安級的微弱電流測量。適用于材料、半導體等領(lǐng)域。

溫控探針臺（移除上蓋）

溫控探針臺（合上上蓋）

探針的比較

   Instec采用彎針探針、相比傳統(tǒng)的直針探針，點針更精準，點針力度更大， 電接觸性也更好。

探針支架的比較

  Instec提供兩種探針支架：杠桿式和磁吸式。

  杠桿式注重點針力度和電接觸性（推薦）；磁吸式則注重操作的便利性。

磁吸式探針座，靠底部磁鐵吸附在底面點針力度靠的是磁鐵吸力

杠桿式探針支架，含彈簧和杠桿結(jié)構(gòu)點針力度靠的是彈簧彈力（推薦）

HCP621VP2氣密冷熱臺技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：-190℃～600℃

溫度穩(wěn)定性：±0.05℃(at 100℃)

控溫速度：+130,-60℃/分鐘(at 100℃)

物鏡工作距離要求：8 mm

樣品區(qū)面積：22 x 22 mm

觀察范圍：反光:φ26.5 mm

HCP621VP2真空探針臺（移除上蓋）

可編程多段精密控溫

可抽真空腔室，真空接口默認KF16

吹氣除霜管道，負溫時吹入干燥氣體除霜

彎針探針，點針精準，導通至BNC接口

杠桿式探針支架，點真力度大，接觸性好

樣品區(qū)臺面電接地

杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性更好

Instec溫控裝置通用控制器，能進行多段可編程溫控

性能不變，體積更小

24 bit A/D轉(zhuǎn)換，0.001℃顯示分辨率

制冷與制熱的輸出，分別由獨立的PID進行控制

專用軟件WinTemp，可從電腦端進行溫控和數(shù)據(jù)處理

USB 2.0接口(可選其他接口)

控制器不連接電腦也能進行控溫操作

線性可調(diào)直流電源，適用低EMI應用(可選)

至多20個校準點

內(nèi)置過溫斷電保護

獲得CE認證

能保存至多5組多段溫控程序指令（也可從軟件端編輯）