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EPK袖珍型700系列涂鍍層測(cè)厚儀

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 更新時(shí)間:2025-04-09 15:16:17
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  • 經(jīng)營(yíng)模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:346條
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  • 注冊(cè)時(shí)間:2016-04-05
  • 最近登錄:2025-04-09
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

德國(guó)EPK袖珍型700系列涂鍍層測(cè)厚儀新的MINITEST 700產(chǎn)品線(xiàn),加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。-**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的**性-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)

詳情介紹

 

德國(guó)EPK袖珍型700系列涂鍍層測(cè)厚儀

新的MINITEST 700產(chǎn)品線(xiàn),加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。
-**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的**性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
 
技術(shù)參數(shù):

主機(jī)型號(hào)

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類(lèi)型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

*多10,000個(gè)

*多10,000個(gè)

*多100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù)、*小值、*大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠(chǎng)設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限

測(cè)量單位

μm,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃~60℃

存放溫度

-20℃~70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

 

探頭:

探頭特性

F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

F2

F5,N2.5,F(xiàn)N5

F15

F

N

F

F

N

F

測(cè)量范圍

0~1.5mm

0~0.7mm

0~-2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范圍

小工件,薄涂層

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

厚涂層

測(cè)量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號(hào)處理

探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)

**度

±(1μm+0.75%)

±(1.5μm+0.75%)

±(5μm+0.75%)

重復(fù)性

±(0.5μm+0.5%)

±(0.8μm+0.5%)

±(2.5μm+0.5%)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

*小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

*小曲率半徑 (凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

*小曲率半徑 (凹,內(nèi)置探頭)

30mm

30mm

30mm

*小測(cè)量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

*小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測(cè)量速度

每秒20個(gè)讀數(shù)

單值模式下*大測(cè)量速度

每分鐘70個(gè)讀數(shù)

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